Phuong LeMinh: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (8)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Narrow-range angle sensor based on wiggles in angular dependence of pseudo-Hall effect

Phan Le Kim, Nguyen Phu Thuy, Phuong LeMinh, Dinh Hung Manh

Журнал:

Sensors and Actuators A: Physical

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 442 KB

english, 2002

2

The effect of dislocation loops on the light emission of silicon LEDs

Tu Hoang,, Phuong LeMinh,, Holleman, J., Schmitz, J.

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 188 KB

english, 2006

3

Influence of Dislocation Loops on the Near-Infrared Light Emission From Silicon Diodes

Tu Hoang, Holleman, J., Phuong LeMinh, Schmitz, J., Mchedlidze, T., Arguirov, T., Kittler, M.

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 422 KB

english, 2007

4

Silicon light-emitting diode antifuse: properties and devices

LeMinh, Phuong, Holleman, Jisk

Журнал:

Journal of Physics D Applied Physics

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 438 KB

english, 2006

5

Hoang, Tu, LeMinh, Phuong, Holleman, Jisk, Schmitz, Jurriaan

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 339 KB

english, 2007

6

[ECS 210th ECS Meeting - Cancun, Mexico (October 29-November 3, 2006)] ECS Transactions - Influence of Interface Recombination in Light Emission from Lateral Si-Based Light Emitting Devices

Hoang, Tu, LeMinh, Phuong, Holleman, Jisk, Schmitz, Jurriaan

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 226 KB

english, 2006

7

[ECS 210th ECS Meeting - Cancun, Mexico (October 29-November 3, 2006)] ECS Transactions - Influence of Interface Recombination in Light Emission from Lateral Si-Based Light Emitting Devices

LeMinh, Phuong, Hoang, Tu, Holleman, Jisk, Schmitz, Jurriaan

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 375 KB

english, 2007

8

SPIE Proceedings [SPIE Microelectronic and MEMS Technologies - Edinburgh, United Kingdom (Wednesday 30 May 2001)] In-Line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing II - Novel technique for reliability testing of silicon integrated circuits

LeMinh, Phuong, Wallinga, H., Woerlee, P. H., van den Berg, Albert, Holleman, J., Kissinger, Gudrun, Weiland, Larg H.

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.31 MB

english, 2001